使用光纤测量功率元件功率循环期间的温度波动
时间：2024-01-03 浏览：216
功率半导体元件的可靠性问题在可再生能源和牵引等许多应用中受到高度重视。需要更多关于设备预期寿命的知识，[1]。对于设计人员来说，为了选择适合实现特定任务概况的电源模块，需要在早期开发阶段进行相关的可靠性调查。对于设备制造商来说，深入了解功率半导体元件的寿命和故障模式有助于在封装材料和设计方面进行评估和改进[2] - [6]。寿命预测方法一般包括两类。个模型基于故障物理 (PoF) 寿命模型，该模型由于缺乏有关电源模块材料和几何形状的详细信息而受到限制。另一种是分析模型，大量使用雨流计数方法等，这些都需要实验功率循环测试[7]-[9]。
功率半导体器件的功率循环测试会产生重复的热机械应力，这会带来累积的疲劳并加速器件的老化直至寿命结束。